Autor(es):
Cunha, L. ; Moura, C.
; Leme, J.
; Andrês, G.
; Pischow, K.
Data: 2004
Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/1822/3940
Origem: RepositóriUM - Universidade do Minho
Assunto(s): Magnetron sputtering; Young's modulus; Nano-indentation experiments; Raman spectroscopy; Si-C-N films