Author(s): 
		  					
		  					Fernandes, A. C.  ; Vaz, F.
 ; Vaz, F.  ; Rebouta, L.
 ; Rebouta, L.  ; Pinto, A.
 ; Pinto, A.  ; Alves, E.
 ; Alves, E.  ; Parreira, N. M. G.
 ; Parreira, N. M. G.  ; Goudeau, Ph.
 ; Goudeau, Ph.  ; Bourhis, E. Le
 ; Bourhis, E. Le  ; Rivière, J. P.
 ; Rivière, J. P.  
 
		  					
Date: 2007
Persistent ID: http://hdl.handle.net/10316/4211
Origin: Estudo Geral - Universidade de Coimbra
Subject(s): X-ray diffraction; Phase transitions; Decorative films; Hardness

 
 
							 
 
							 
 
							 
 
						 
							
							
							
							 
						 
						 
						 
						 
						 
						