Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais ...

• Author(s): Bento, David ; Cidre, Diana ; Lima, José ; Dias, Ricardo P. ; Lima, Rui
• Date: 2013
• Persistent ID: http://hdl.handle.net/10198/10687
• Origin: Biblioteca Digital do IPB
• Subject(s): Camada de plasma; Bifurcação; Método automático
• Document Type: Conference Object
• Language: Portuguese

Description

Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.