Autor(es):
Limão-Vieira, P. 
; Gonçalves, M. R. ; Ribeiro, J. H. F.
Data: 1995
Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/10362/3306
Origem: Repositório Institucional da UNL
Detalhes do Documento
Microscopia de varrimento por sonda (SPM)
Descrição
Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4 A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope) em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços conseguidos com este tipo de micróscopia, associada a outras técnicas, deram origem a uma nova área de engenharia, fortemente interdisciplinar: a Nano-Engenharia. Neste artigo, é analisado o funcionamento de alguns tipos de microscópios SPM e suas aplicações.
Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4 A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope) em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços conseguidos com este tipo de micróscopia, associada a outras técnicas, deram origem a uma nova área de engenharia, fortemente interdisciplinar: a Nano-Engenharia. Neste artigo, é analisado o funcionamento de alguns tipos de microscópios SPM e suas aplicações.
Tipo de Documento
Artigo
Idioma Português
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