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Electron and photon induced processes in SF5CF3
Limão-Vieira, P.; Kendall, P.A; Eden, S.; Mason, N.J.; Heinesch, J.; Hubin-Franskin, M.J.; Delwiche, J.; Giuliani, A.The photo-absorption cross section of trifluoromethyl sulphur pentafluoride, SF5CF3 has been measured using synchrotron radiation in the range of 4–11 eV (310 nm > l > 110 nm) and comparison made with electron energy loss spectroscopy (EELS). The measured VUV cross sections are used to derive the photolysis rate of SF5CF3 in the terrestrial atmosphere. It is estimated that the lifetime for this molecule is ...
Microscopia de varrimento por sonda (SPM)
Limão-Vieira, P.; Gonçalves, M. R.; Ribeiro, J. H. F.Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4 ; A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope) em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços c...
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