Autor(es):
Kong, S. H. ; Correia, J. H.
; Bartek, M.
; Wolffenbuttel, R. F.
Data: 2001
Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/1822/4274
Origem: RepositóriUM - Universidade do Minho
Assunto(s): Microinterferometers; Integrated silicon microspectrometers