Author(s):
Chappé, J. M. ; Carvalho, P.
; Lanceros-Mendez, S.
; Vasilevskiy, M. I.
; Vaz, F.
; Machado, A. V.
; Fenker, M.
; Kappl, H.
; Parreira, N. M. G.
; Cavaleiro, A.
; Alves, E.
Date: 2008
Persistent ID: http://hdl.handle.net/10316/4192
Origin: Estudo Geral - Universidade de Coimbra
Subject(s): Niobium oxynitride; Reactive sputtering; Structure; Hardness; Optical reflectance