Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais...

• Autor(es): Bento, David ; Cidre, Diana ; Lima, José ; Dias, Ricardo P. ; Lima, R.
• Data: 2013
• Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/10198/9104
• Origem: Biblioteca Digital do IPB
• Assunto(s): Camada de plasma; Bifurcação; Método automático
• Tipo de Documento: Artigo
• Idioma: Português

Descrição

Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxilio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.