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Yield potential probability maps using the Rasch model

Marques da Silva, José Rafael; J. Rebollo, Francisco; Sousa, Adélia; Mesquita, Paulo

Yield monitors commonly show that there are very large yield differences within a field which often differ from year to year. Because our ability to estimate reductions in growth and to quantify yield losses resulting from complex interactions and multiple stresses is limited, it does not appear feasible to analyse yield variability using a point to point strategy. For a farmer it is important to select parcels...


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