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Aplicação do modelo de Kubelka-Munk à análise de filmes semicondutores

Com este trabalho, pretendeu-se efectuar a caracterização de algunsparâmetros ópticos de filmes semicondutores, recorrendo a medidas dereflectância difusa, com o objectivo principal de determinar a energia de hiatodesses materiais. Desenvolveu-se um algoritmo computacional com base no modelo de Kubelka-Munk, modificando as expressões originais de acordo com as característicasdo filme e do tipo de iluminação uti...