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Effect of the drift field on avalanche gain and charge collection in microgap d...

Fraga, F. A. F.; Marques, R. Ferreira; Gonçalves, J. A. C.; Gonçalo, J. R.; Policarpo, A. J. P. L; Eijk, C. W. E. van; Hollander, R. W.

One of the main drawbacks of the use of microgap structures when used at high pressure (6 bar) at high count rates (~106 s-1 mm-2) is the limited maximum safe gain at which they can be operated. The use of a preamplification device such as the GEM (gas electron multiplier) can overcome this limitation; however, secondary space charge effects due to charge accumulation at the non-metallic surfaces cannot be negl...


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