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Angle-scanned photoemission: Fermi surface mapping and structural determination

Aebi, P.; Fasel, R.; Naumovic, D.; Hayoz, J.; Pillo, Th.; Bovet, M.; Agostino, R. G.; Patthey, L.; Schlapbach, L.; Gil, F. P.; Berger, H.; Kreutz, T. J.

A brief survey of the angle-scanned photoemission technique is given. It incorporates two complementary methods in one: ; http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TVX-3X82696-4F/1/e2ffd4efc660238ad8d4ad8f685991bf

Data: 1998 | Origem: Estudo Geral - Universidade de Coimbra

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