Autor(es):
Gonzalez, João Guilherme Fonseca Cal
Data: 2011
Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/10362/6806
Origem: Repositório Institucional da UNL
Assunto(s): Ensaios não destrutivos; Correntes induzidas; Sonda IOnic; Micro-defeitos; Optimização