Author(s):
Abreu, C. S. ; Oliveira, F. J.
; Belmonte, M.
; Fernandes, A. J. S.
; Gomes, J. R.
; Silva, R. F.
Date: 2006
Persistent ID: http://hdl.handle.net/1822/6124
Origin: RepositóriUM - Universidade do Minho
Subject(s): CVD diamond; Silicon nitride; Residual stresses