Autor(es):
Guedes, A. ; Pinto, A. M. P.
; Vieira, M. F.
; Viana, Filomena
Data: 2003
Identificador Persistente: http://hdl.handle.net/1822/1568
Origem: RepositóriUM - Universidade do Minho
Assunto(s): TiAl; Diffusion brazing; Interface; Hardness