Author(s):
Monteiro, C. M. B. ; Simões, P. C. P. S.
; Veloso, J. F. C. A.
; Santos, J. M. F. dos
; Conde, C. A. N.
Date: 2003
Persistent ID: http://hdl.handle.net/10316/4473
Origin: Estudo Geral - Universidade de Coimbra
Subject(s): X-ray detectors; Non-linearity