Author(s):
Neiva, A. M. R. ; Gomes, C. A. A. Leal
Date: 2010
Persistent ID: http://hdl.handle.net/10316/14300
Origin: Estudo Geral - Universidade de Coimbra
Subject(s): Turmalina; Naípa; Microssonda electrónica; Tourmaline; Electron microprobe