Author(s):
Correia, André ; Sampaio-Fernandes, J. C.
; Campos, J.C. Reis
; Vaz, Mário A. P.
; Piloto, P.A.G.
; Ramos, Nuno V.
Date: 2012
Persistent ID: http://hdl.handle.net/10198/7883
Origin: Biblioteca Digital do IPB
Subject(s): Sistemas CAD-CAM; Método dos elementos finitos; Fotoelasticidade; Interferometria holográfica